NB/T 47013.11-2015 《承壓設備無損檢測 第11部分：X射線數字成像檢測》 第1號修改單

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本修改單經國家能源局于2018年5月14日以第7號公告批準，自2018年7月1日起實施。

① 第2章“GB/T 23903 射線圖像分辨力測試計”后補充新條文：

“GB/T 26592 無損檢測儀器 工業(yè)X射線探傷機性能測試方法

GB/T 26594 無損檢測儀器 工業(yè)用X射線管性能測試方法”

  第2章“NB/T47013.2 承壓設備無損檢測 第2部分：射線檢測”后補充新條文：

  “JB/T 11608 無損檢測儀器 工業(yè)用X射線探傷裝置”

② 4.1.1條中更改用語：

“并取得《放射工作人員證》”更改為“并按照有關法規(guī)的要求取得相應證書”。

③ 4.2條中更改用語：

“檢測系統(tǒng)”更改為“檢測系統(tǒng)與器材”。

④ 4.2.1.2條后補充新條文，4.2.1.3 ：

“采用的X射線機，其性能指標應滿足JB/T11608的規(guī)定，使用性能測試條件及測試方法參考GB/T26594 和GB/T26592的規(guī)定?！?/font>

⑤ 4.2.2.4 條改用新條文：

4.2.2.4“壞像素要求：面陣列探測器3×3像素區(qū)域中，相鄰壞像素不得超過3個；成行（成列）壞像素不得超過3個，且不得位于距離中心位置200像素以內；成像區(qū)域內壞像素不超過總像素的1%。線陣列探測器中，相鄰的壞像素不允許超過2個。探測器系統(tǒng)供應商應提供出廠壞像素表和壞像素校正方法?！?/font>

⑥ 在4.2.2.5后補充新條文，4.2.2.6和4.2.2.7：

“4.2.2.6探測器系統(tǒng)性能指標如：壞像素、對比靈敏度、分辨率、信噪比、線性范圍、厚度寬容度、殘影等，其測試條件及測試方法按相應國家或行業(yè)標準的規(guī)定執(zhí)行?！?/font>

“4.2.2.7探測器系統(tǒng)質量合格證中至少應給出探測器類型、轉換屏參數（如有）、像素尺寸、成像面積、射線能量適用范圍、量子轉換效率、填充因子、采集幀頻等技術參數?！?/font>

⑦ 4.2.4.6條中更改用語：

“根據評定結果”更改為“自動”。

① 4.2.6條改用新條文：

4.2.6 “像質計

4.2.6.1本部分采用的像質計包括線型像質計和雙線型像質計。

4.2.6.2線型像質計的型號和規(guī)格應符合GB/T 23901.1的規(guī)定，雙線型像質計的型號和規(guī)格應符合GB/T 23901.5的規(guī)定?！?/font>

② 4.2.6條后補充新條文，4.2.7、4.2.8：

“4.2.7檢測系統(tǒng)使用性能

應結合被檢工件和本部分要求，根據檢測系統(tǒng)各部分性能指標選擇合適的檢測設備和器材，并提供滿足上述設備和器材性能指標及系統(tǒng)軟件功能的測試證明文件。檢測系統(tǒng)的使用性能應滿足本部分規(guī)定的圖像質量要求。”

“4.2.8校準或運行核查

4.2.8.1  每年至少對探測器系統(tǒng)性能中的壞像素、線性范圍、信噪比、厚度寬容度、殘影等進行1次校準并記錄。

4.2.8.2  每年至少應對使用中的曝光曲線進行1次核查。當射線機重要部件更換或經過修理后，應重新制作曝光曲線。

4.2.8.3  每3個月至少對探測器壞像素進行1次核查，并記錄和校正。

4.2.8.4  存在如下情況應進行系統(tǒng)分辨率核查并記錄，核查方法按附錄A執(zhí)行。

a）檢測系統(tǒng)有改變時；

b）正常使用條件下，每3個月應至少核查一次；

c）在系統(tǒng)停止使用一個月后重新使用時?！?/font>

③ 5.4.1.2條后補充新條文，5.4.1.3：

“由于結構原因不能按照5.4.1.1或5.4.1.2規(guī)定的間隔角度進行多次透照時，經合同雙方商定，可不再強制限制5.4.1.1或5.4.1.2規(guī)定的間隔角度，但應采取有效措施盡量擴大缺陷可檢出范圍，并保證圖像評定范圍內信噪比、靈敏度和分辨率滿足要求，并在檢測報告中對有關情況進行說明?！?/font>

11 5.4.2條改用新條文：

5.4.2“不要求100%檢測的小徑管環(huán)向焊接接頭的透照次數由合同雙方商定，并保存相關記錄。

12 將6.1.1.3條中的“線型像質計的型號和規(guī)格應符合GB/T 23901.1的規(guī)定”刪除。

13 將6.1.1.4條中的“雙線型像質計的型號和規(guī)格應符合GB/T 23901.5的規(guī)定”刪除。

14 6.1.2.1.2條中更改用語：

“雙壁單影透照時”更改為“雙壁單影或雙壁雙影透照時”

15 6.1.3.1條改用新條文：

6.1.3.1“雙線型像質計應放在射線機側。當采用雙壁單影透照方式時，可放在探測器側?！?/font>

16 6.1.3.2.1條中更改用語：

“被檢測區(qū)長度的1/4左右位置”更改為“靠近被檢焊縫”。

17 在6.1.4.2條句尾補充“對于小徑管雙壁雙影透照方式，透照厚度應取管子直徑?！?/font>

18 在6.1.4.3條句尾補充:

“注：對于使用裂紋敏感性材料或標準抗拉強度下限值Rｍ≥540MPa高強度材料進行檢測時，不得采取補償?！?/font>

19 6.2.5.2條第一行中更改用語：

“透照規(guī)格”更改為“透照參數”。

20 在A.5.1 a）條句尾補充：

“在條件受限情況下，可適當減小F，但應保證檢測系統(tǒng)的幾何不清晰度不大于探測器像素尺寸的5%?！?/font>

21 在A.5.2后補充新條文，A.6：

“系統(tǒng)分辨率應滿足表4或表5的要求，用于小徑管雙壁雙影透照方式檢測時，表中透照厚度應取2倍管子壁厚?！?/font>

22 D.1中第5行中更改用語：

“P—探測器像素大小（μm）”更改為：“P—分辨力（μm）；

注：測量系統(tǒng)歸一化信噪比時，P為系統(tǒng)分辨力；測量圖像歸一化信噪比時，P為圖像分辨力”。

23 D.2條改用新條文：

D.2“信噪比測量是指在均勻區(qū)域（圖像信噪比指熱影響區(qū)或焊縫附近的母材、無缺陷處），取面積不小于20像素×55像素的矩形區(qū)，計算此區(qū)域的均值和標準差，按照信噪比定義得到測量信噪比SNRm?！?/font>